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晶閘管測(cè)試儀的適用范圍

更新時(shí)間:2017-12-15      瀏覽次數(shù):1723
晶閘管測(cè)試儀的適用范圍
  晶閘管測(cè)試儀使用范圍:
  用于測(cè)試普通可控硅、雙向可控
  硅、快速可控硅、可控硅模塊的
  通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM
  用于測(cè)試整流管的正向峰值電流
  IFM和峰值壓降VFM
  數(shù)字顯示測(cè)試結(jié)果,自動(dòng)測(cè)試
  通態(tài)峰值電流值測(cè)試前可準(zhǔn)確設(shè)定,并具有良好的測(cè)試重復(fù)性。
  晶閘管測(cè)試儀是晶閘管觸發(fā)電壓VGT、觸發(fā)電流IGT和維持電流IH三項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試設(shè)備。適用于各種反向阻斷晶閘管,逆導(dǎo)晶閘管及雙向晶閘管的參數(shù)測(cè)試。本儀器設(shè)計(jì)先進(jìn),操作簡(jiǎn)便,采用數(shù)字表顯示測(cè)試結(jié)果,具有精度高,重復(fù)性好,對(duì)被測(cè)器件自動(dòng)保護(hù)等特點(diǎn)。其測(cè)試原理符合 GB4024-83 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,是電力半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠和使用單位zui為理想的檢測(cè)設(shè)備。
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